CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155. Questo articolo non è disponibile.
Lingua: inglese
Editore: Materials Research Society, 2009
- Rilegato
- Nuovo
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Codice articolo C9781605111285
- Titolo
- CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
- Autore
- Alexander A. Demkov
- Editore
- Materials Research Society
- Anno di pubblicazione
- 2009
- Condizione
- New
- Rilegatura
- Hardback
- Lingua
- inglese
- ISBN 10
- 1605111287
- ISBN 13
- 9781605111285
- Peso dell'articolo
- 416 grammi
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