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CMOS Gate-Stack Scaling ― Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155: Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a. - Rilegato
Sinossi
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
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Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.
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CMOS Gate-Stack Scaling ? Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
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Cmos Gate-stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
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Condizione: New. The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners. Editor(s): Demkov, Alexander A. (Freescale Semiconductor Inc., Austin, Texas); Taylor, Bill; Harris, H. Rusty; Butterbaugh, Jeffery W.; Rachmady, Willy. Series: MRS Proceedings. Num Pages: 194 pages, Illustrations. BIC Classification: TGM. Category: (U) Tertiary Education (US: College). Dimension: 228 x 152 x 13. Weight in Grams: 430. . 2009. Hardback. . . . . Codice articolo V9781605111285
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CMOS Gate-Stack Scaling ? Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
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Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.
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CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications
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Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications: Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.: Vol 1155
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
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Hardcover. Condizione: Brand New. 194 pages. 9.13x6.30x0.79 inches. In Stock. Codice articolo x-1605111287
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Cmos Gate-Stack Scaling-- Materials, Interfaces and Reliability Implications
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Cmos Gate-stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
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Condizione: New. The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners. Editor(s): Demkov, Alexander A. (Freescale Semiconductor Inc., Austin, Texas); Taylor, Bill; Harris, H. Rusty; Butterbaugh, Jeffery W.; Rachmady, Willy. Series: MRS Proceedings. Num Pages: 194 pages, Illustrations. BIC Classification: TGM. Category: (U) Tertiary Education (US: College). Dimension: 228 x 152 x 13. Weight in Grams: 430. . 2009. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland. Codice articolo V9781605111285
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