Isbn: 9781605111285 - cmos gate-stack scaling ― materials, interfaces and reliability implications: volume 1155: symposium held april 14-16, 2009, san francisco, california, u.s.a. (16 risultati)
Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.
Butterbaugh, J. (EDT); Demkov, a (EDT); Harris, R. (EDT); Rachmady, W. (EDT); Taylor, B. (EDT)
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Cmos Gate-stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
. Ed(s): Demkov, Alexander A. (Freescale Semiconductor Inc., Austin, Texas); Taylor, Bill; Harris, H. Rusty; Butterbaugh, Jeffery W.; Rachmady, Willy
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Butterbaugh, J. (EDT); Demkov, a (EDT); Harris, R. (EDT); Rachmady, W. (EDT); Taylor, B. (EDT)
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Cmos Gate-Stack Scaling-- Materials, Interfaces and Reliability Implications
Rachmady Willy Butterbaugh Jeffery W. Harris H. Rusty Taylor Bill Demkov Alexander A.
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Buch. Condizione: Neu. CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications | Alexander A. Demkov (u. a.) | Buch | Englisch | 2016 | Cambridge University Press | EAN 9781605111285 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand. …
