Demkov alexander (93 risultati)
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Condizione: Muy bueno. : Este libro trata sobre la integración de óxidos funcionales con semiconductores. Cubre temas como los semiconductores de óxido metálico, la epitaxia y el recubrimiento de óxido. Publicado por Springer New York en 2016, el libro tiene 278 páginas y está escrito en inglés. EAN: 9781493941698 Tipo: Libros C…ategoría: Tecnología|Ciencias Título: Integration of Functional Oxides with Semiconductors Autor: Alexander A. Demkov| Agham B. Posadas Editorial: Springer New York Idioma: en Páginas: 278.
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Editore: Springer, 2014
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - To address the increasing demands of device scaling, new materials are being introduced into conventional Si CMOS processing at an unprecedented rate. Presentations collected here focus on understanding, from a chemistry and materials perspective,… the mechanism of interface formation and defects at interfaces, for both conventional Si and alternative channel (Ge or III-V) systems. Several papers address reliability concerns for high-k/metal gate (basic physical models, charge trapping, etc.), while others cover characterization of the thin films and interfaces which comprise the gate stack. Topics include: advanced Si-based gate stacks; and alternate channel materials.
Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.
Butterbaugh, J. (EDT); Demkov, a (EDT); Harris, R. (EDT); Rachmady, W. (EDT); Taylor, B. (EDT)
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Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.
Butterbaugh, J. (EDT); Demkov, a (EDT); Harris, R. (EDT); Rachmady, W. (EDT); Taylor, B. (EDT)
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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Cmos Gate-stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
. Ed(s): Demkov, Alexander A. (Freescale Semiconductor Inc., Austin, Texas); Taylor, Bill; Harris, H. Rusty; Butterbaugh, Jeffery W.; Rachmady, Willy
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Condizione: New. The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners. Editor(s): Demkov, Alexander A. (Freescale Semiconductor Inc., Austin, Texas); Taylor, Bill; Harris, H. Rusty; Butterbaugh, Jeffery W.; Rachmady, Willy. Series: MRS Proceedings. Num Pages: 1…94 pages, Illustrations. BIC Classification: TGM. Category: (U) Tertiary Education (US: College). Dimension: 228 x 152 x 13. Weight in Grams: 430. . 2009. Hardback. . . . .
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Da: Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Regno UnitoPhatpocket Limited
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Editore: Springer, 2014
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Editore: Springer, 2016
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Integration of Functional Oxides with Semiconductors | Alexander A. Demkov (u. a.) | Taschenbuch | x | Englisch | 2016 | Springer | EAN 9781493941698 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: p…reigu.
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