Controlling the aging of power transistors: Reliability Challenge: Controlling transistor aging and failure under short-circuit conditions

Ben Salah, Tarek; Lefebvre, Stéphane; Othmen, Douha

ISBN 10: 6208939453 ISBN 13: 9786208939458
Editore: Our Knowledge Publishing, 2025
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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