Importo totale (1 articolo articoli):
Destinazione ordine:
9786208939458 - Controlling the aging of power transistors: Reliability Challenge: Controlling transistor aging and failure under short-circuit conditions di Ben Salah, Tarek; Lefe... (11 risultati)
Vai alla pagina principale dei risultati di ricerca
Filtri di ricerca
Tipo di articolo
- Tutti i tipi di prodotto
- Libri (11)
- Riviste e Giornali (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fumetti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Spartiti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Arte, Stampe e Poster (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fotografie (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Mappe (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Manoscritti e Collezionismo cartaceo (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Condizioni Maggiori informazioni
- Nuovo (11)
- Come nuovo, Ottimo o Quasi ottimo (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Molto buono o Buono (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Discreto o Mediocre (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Come descritto (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Legatura
- Tutte
- Rilegato (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Brossura (11)
Ulteriori caratteristiche
- Prima ed. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Copia autograf. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Sovracoperta (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Con foto (3)
- Non Print on Demand (3)
Lingua (1)
Prezzo
- Qualsiasi prezzo
- Inferiore a EUR 20 (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- EUR 20 a EUR 45 (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Superiore a EUR 45
Spedizione gratuita
Paese del venditore
Valutazione venditore
-
Controlling the aging of power transistors: Reliability Challenge: Controlling transistor aging and failure under short-circuit conditions
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 68,03
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
Controlling the aging of power transistors
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New.
-
EUR 52,45
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Controlling the aging of power transistors | Reliability Challenge: Controlling transistor aging and failure under short-circuit conditions | Tarek Ben Salah (u. a.) | Taschenbuch | Englisch | 2025 | Our Knowledge Publishing | EAN 9786208939458 | Verantwortliche Person für die EU: SIA OmniScriptum Publishing, Brivibas Gatve 197, 1039 RIGA, LETTLAND, customerservice[at]vdm-vsg[dot]de | Anbieter: preigu.
-
Controlling the aging of power transistors
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 64,65
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloPAP. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
-
Controlling the aging of power transistors
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 62,88
Spedizione EUR 3,80
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloPAP. Condizione: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
-
Controlling the aging of power transistors
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 60,90
Spedizione EUR 23,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book presents an in-depth experimental study of the behavior of SiC JFET transistors for demanding aerospace applications. A complete methodology is described, including the design of an automated test bench via LabView, robustness tests to determine the critical energy, and accelerated aging tests to monitor the evolution of electrical parameters. The results obtained highlight reliable degradation indicators and open up interesting prospects for the design of more resistant electronic systems in extreme environments. 88 pp. Englisch.
-
Controlling the aging of power transistors (Paperback)
Da: CitiRetail, Stevenage, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 67,85
Spedizione EUR 42,77
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: new. Paperback. This book presents an in-depth experimental study of the behavior of SiC JFET transistors for demanding aerospace applications. A complete methodology is described, including the design of an automated test bench via LabView, robustness tests to determine the critical energy, and accelerated aging tests to monitor the evolution of electrical parameters. The results obtained highlight reliable degradation indicators and open up interesting prospects for the design of more resistant electronic systems in extreme environments. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
-
Controlling the aging of power transistors
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 111,38
Spedizione EUR 7,51
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand.
-
Controlling the aging of power transistors
Lingua: Inglese
Editore: Our Knowledge Publishing Jun 2025, 2025
ISBN 10: 6208939453 ISBN 13: 9786208939458
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 60,90
Spedizione EUR 60,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book presents an in-depth experimental study of the behavior of SiC JFET transistors for demanding aerospace applications. A complete methodology is described, including the design of an automated test bench via LabView, robustness tests to determine the critical energy, and accelerated aging tests to monitor the evolution of electrical parameters. The results obtained highlight reliable degradation indicators and open up interesting prospects for the design of more resistant electronic systems in extreme environments.VDM Verlag, Dudweiler Landstraße 99, 66123 Saarbrücken 88 pp. Englisch.
-
Controlling the aging of power transistors
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 112,68
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND.
-
EUR 61,63
Spedizione EUR 60,75
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - This book presents an in-depth experimental study of the behavior of SiC JFET transistors for demanding aerospace applications. A complete methodology is described, including the design of an automated test bench via LabView, robustness tests to determine the critical energy, and accelerated aging tests to monitor the evolution of electrical parameters. The results obtained highlight reliable degradation indicators and open up interesting prospects for the design of more resistant electronic systems in extreme environments.
