Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits (Frontiers in Electronic Testing)

Manoj Sachdev

ISBN 10: 0792380835 ISBN 13: 9780792380832
Editore: Springer, 1997
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Molto buono Rilegato

Venduto da HPB-Emerald, Dallas, TX, U.S.A.

Venditore AbeBooks dal 15 settembre 2017

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Visualizza gli articoli del venditore


Usato - Rilegato

Condizione: Usato - Molto buono

Prezzo:
EUR 86,40
EUR 3,24 per la spedizione in U.S.A.

Quantità: 1 disponibili

Aggiungere al carrello