Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)

Sachdev, Manoj; Pineda De Gyvez, José

ISBN 10: 0387465464 ISBN 13: 9780387465463
Editore: Springer, 2007
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Molto buono Rilegato

Venduto da Solr Books, Lincolnwood, IL, U.S.A.

Venditore AbeBooks dal 23 aprile 2015

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Visualizza gli articoli del venditore


Usato - Rilegato

Condizione: Usato - Molto buono

Prezzo:
EUR 27,63
EUR 6,82 shipping
Spedito in U.S.A.

Quantità: 1 disponibili

Aggiungere al carrello