Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology

Libro 4 di 241: NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry

Pacchioni, Gianfranco|Skuja, Linards|Griscom, David L.

ISBN 10: 0792366859 ISBN 13: 9780792366850
Editore: Springer Netherlands, 2000
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Rilegato

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