Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology

Libro 4 di 241: NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry

Gianfranco Pacchioni (u. a.)

ISBN 10: 0792366859 ISBN 13: 9780792366850
Editore: Springer Netherland, 2000
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Rilegato

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