Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs

Brandon Noia|Krishnendu Chakrabarty

ISBN 10: 3319345346 ISBN 13: 9783319345345
Editore: Springer International Publishing, 2016
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

Venduto da moluna, Greven, Germania

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Nuovi - Brossura

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