Doneker, J: Defect Recognition and Image Processing in Semic

Lingua: inglese

Editore: CRC Press, 1998

0750305002 / 9780750305006

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Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Doneker, J.Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 provides a valuable overview of current techniques used to assess, monitor, and characterize defects from the atomic scale to inhomogeneities in complete silicon wafers. This .

Codice articolo 594940535

Titolo
Doneker, J: Defect Recognition and Image Processing in Semic
Autore
J. Doneker|I. Rechenberg
Editore
CRC Press
Anno di pubblicazione
1998
Condizione
New
Rilegatura
Gebunden
Lingua
inglese
ISBN 10
0750305002
ISBN 13
9780750305006

moluna

Greven, Germania

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