Fatigue Testing and Analysis : Theory and Practice

Lee, Yung-Li (EDT); Pan, Jwo; Hathaway, Richard B.; Barkey, Mark E.

ISBN 10: 0750677198 ISBN 13: 9780750677196
Editore: Butterworth-Heinemann, 2004
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Rilegato

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