Pan jwo (13 risultati)
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Fatigue Testing and Analysis : Theory and Practice
Lee, Yung-Li (EDT); Pan, Jwo; Hathaway, Richard B.; Barkey, Mark E.
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Fatigue Testing and Analysis : Theory and Practice
Lee, Yung-Li (EDT); Pan, Jwo; Hathaway, Richard B.; Barkey, Mark E.
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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Fatigue Testing and Analysis : Theory and Practice
Lee, Yung-Li (EDT); Pan, Jwo; Hathaway, Richard B.; Barkey, Mark E.
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Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
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Fatigue Testing and Analysis : Theory and Practice
Lee, Yung-Li (EDT); Pan, Jwo; Hathaway, Richard B.; Barkey, Mark E.
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- Brossura
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Condizione: New. Covers the useful techniques for component load measurement and data acquisition, fatigue properties determination, fatigue analysis, and accelerated life test criteria development, and, most importantly, test plans for reliability demonstrations.
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Hardcover. Condizione: Brand New. 1st edition. 402 pages. 9.00x6.25x1.25 inches. In Stock. This item is printed on demand.
