Fatigue Testing and Analysis : Theory and Practice

Lee, Yung-Li (EDT); Pan, Jwo; Hathaway, Richard B.; Barkey, Mark E.

ISBN 10: 0750677198 ISBN 13: 9780750677196
Editore: Butterworth-Heinemann, 2004
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Rilegato

Venduto da GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.

Venditore AbeBooks dal 6 aprile 2009

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Visualizza gli articoli del venditore


Nuovi - Rilegato

Condizione: Nuovo

Prezzo: EUR 151,84 Convertire valuta
EUR 2,27 per la spedizione in U.S.A. Destinazione, tempi e costi

Quantità: Più di 20 disponibili

Aggiungere al carrello