Feature Profile Evolution in Plasma Processing Using On-wafer Monitoring System

Lingua: inglese

Editore: Springer Japan Feb 2014, 2014

4431547940 / 9784431547945

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book provides for the first time a good understanding of the etching profile technologies that do not disturb the plasma. Three types of sensors are introduced: on-wafer UV sensors, on-wafer charge-up sensors and on-wafer sheath-shape sensors in the plasma processing and prediction system of real etching profiles based on monitoring data. Readers are made familiar with these sensors, which can measure real plasma process surface conditions such as defect generations due to UV-irradiation, ion flight direction due to charge-up voltage in high-aspect ratio structures and ion sheath conditions at the plasma/surface interface. The plasma etching profile realistically predicted by a computer simulation based on output data from these sensors is described. 52 pp. Englisch.

Codice articolo 9784431547945

Titolo
Feature Profile Evolution in Plasma Processing Using On-wafer Monitoring System
Autore
Seiji Samukawa
Editore
Springer Japan Feb 2014
Anno di pubblicazione
2014
Condizione
Neu
Rilegatura
Taschenbuch
Lingua
inglese
ISBN 10
4431547940
ISBN 13
9784431547945
Peso dell'articolo
96 grammi
Dimensioni
235x155x4 mm

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