Hf-Based High-k Dielectrics: Process Development, Performance Characterization, and Reliability

Lingua: inglese

Editore: Morgan & Claypool, 2005

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Codice articolo 121985

Titolo
Hf-Based High-k Dielectrics: Process Development, Performance Characterization, and Reliability
Autore
Young-Hee Kim; Jack C. Lee
Editore
Morgan & Claypool
Anno di pubblicazione
2005
Condizione
Acceptable
Tipo di libro
Ex-Library
Rilegatura
Soft Cover
Lingua
inglese
ISBN 10
1598290045
ISBN 13
9781598290042

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