Interfacial Compatibility in Microelectronics : Moving Away from the Trial and Error Approach

Laurila, Tomi; Vuorinen, Vesa; Mattila, Toni T.; Turunen, Markus; Palausto-krockel, Mervi

ISBN 10: 1447124693 ISBN 13: 9781447124696
Editore: Springer, 2012
Lingua: Inglese
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