Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials : Instrumentation, Data Analysis, and Applications

Wee, Andrew Thye Shen; Yin, Xinmao; Tang, Chi Sin

ISBN 10: 3527349510 ISBN 13: 9783527349517
Editore: Wiley-VCH, 2022
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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