ISBN: 9783527349517 - introduction to spectroscopic ellipsometry of thin film materials: instrumentation, data analysis, and applications (2 risultati)
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Condizione: New. Andrew T. S. Wee is a class of 62 Professor of Physics, and Director of the Surface Science Laboratory at the National University of Singapore (NUS). His research interests are in surface and nanoscale science, scanning tunnelling microscopy (STM) and synch.
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