Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis and Applications

Andrew Thye Shen Wee, Xinmao Yin, Chi Sin Tang

ISBN 10: 3527349510 ISBN 13: 9783527349517
Editore: Wiley-VCH Verlag GmbH 2022-05-25, 2022
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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