Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization (Springer Series in Surface Sciences, 65)

Libro 24 di 30: Springer Series in Surface Sciences
ISBN 10: 3030092984 ISBN 13: 9783030092986
Editore: Springer, 2019
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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