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9783030092986 - Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization: 65 (12 risultati)
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Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization (Springer Series in Surface Sciences, 65)
Libro 24 di 30: Springer Series in Surface SciencesDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 204,14
Spedizione EUR 14,09
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Kelvin Probe Force Microscopy | From Single Charge Detection to Device Characterization
Libro 24 di 30: Springer Series in Surface SciencesEUR 202,85
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Kelvin Probe Force Microscopy | From Single Charge Detection to Device Characterization | Sascha Sadewasser (u. a.) | Taschenbuch | xxiv | Englisch | 2019 | Springer | EAN 9783030092986 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization
Libro 24 di 30: Springer Series in Surface SciencesDa: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New.
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Kelvin Probe Force Microscopy : From Single Charge Detection to Device Characterization
Libro 24 di 30: Springer Series in Surface SciencesLingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland, 2019
ISBN 10: 3030092984 ISBN 13: 9783030092986
EUR 235,39
Spedizione EUR 64,10
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book provides a comprehensive introduction to the methods and variety of Kelvin probe force microscopy, including technical details. It also offers an overview of the recent developments and numerous applications, ranging from semiconductor materials, nanostructures and devices to sub-molecular and atomic scale electrostatics.In the last 25 years, Kelvin probe force microscopy has developed from a specialized technique applied by a few scanning probe microscopy experts into a tool used by numerous research and development groups around the globe. This sequel to the editors' previous volume 'Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces,' presents new and complementary topics.It is intended for a broad readership, from undergraduate students to lab technicians and scanning probe microscopy experts who are new to the field.
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Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization (Springer Series in Surface Sciences, 65)
Libro 24 di 30: Springer Series in Surface SciencesDa: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 369,38
Spedizione EUR 29,40
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
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Kelvin Probe Force Microscopy
Libro 24 di 30: Springer Series in Surface SciencesDa: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Brand New. New. US edition. Print on demand title. Delivery takes 20-25 days.
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Kelvin Probe Force Microscopy (eng)
Libro 24 di 30: Springer Series in Surface SciencesDa: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 182,29
Spedizione EUR 8,00
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Kelvin Probe Force Microscopy
Libro 24 di 30: Springer Series in Surface SciencesLingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing, 2019
ISBN 10: 3030092984 ISBN 13: 9783030092986
EUR 197,62
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Discusses the applications of Kelvin probe force microscopy in nanotechnologyProvides a detailed description of a variety of theoretical and experimental aspects of the techniqueIncludes contributions by leading experts in the field.
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Kelvin Probe Force Microscopy
Libro 24 di 30: Springer Series in Surface SciencesLingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland Jan 2019, 2019
ISBN 10: 3030092984 ISBN 13: 9783030092986
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 235,39
Spedizione EUR 23,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book provides a comprehensive introduction to the methods and variety of Kelvin probe force microscopy, including technical details. It also offers an overview of the recent developments and numerous applications, ranging from semiconductor materials, nanostructures and devices to sub-molecular and atomic scale electrostatics.In the last 25 years, Kelvin probe force microscopy has developed from a specialized technique applied by a few scanning probe microscopy experts into a tool used by numerous research and development groups around the globe. This sequel to the editors' previous volume 'Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces,' presents new and complementary topics.It is intended for a broad readership, from undergraduate students to lab technicians and scanning probe microscopy experts who are new to the field. 548 pp. Englisch.
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Kelvin Probe Force Microscopy
Libro 24 di 30: Springer Series in Surface SciencesLingua: Inglese
Editore: Springer, Springer Jan 2019, 2019
ISBN 10: 3030092984 ISBN 13: 9783030092986
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 235,39
Spedizione EUR 60,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Presents the applications of Kelvin probe force microscopy in nanotechnologyProvides an in-depth description of a variety of theoretical and experimental aspects of the techniqueIncludes contributions by the leading experts in the fieldSpringer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 548 pp. Englisch.
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Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization
Libro 24 di 30: Springer Series in Surface SciencesDa: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 311,71
Spedizione EUR 7,64
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
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Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization
Libro 24 di 30: Springer Series in Surface SciencesDa: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 310,93
Spedizione EUR 9,95
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