LSI/VLSI Testability Design.
Tsui, Frank F.
Editore: McGraw-Hill New York, 1986
Usato
Brossura
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Descrizione:
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Dati bibliografici
Titolo: LSI/VLSI Testability Design.
Casa editrice: McGraw-Hill New York
Data di pubblicazione: 1986
Legatura: Brossura
Condizione: Sehr gut
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Foto dell'editore
Lsi/Vlsi Testability Design
Da: HPB-Red, Dallas, TX, U.S.A.
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