Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics, 10)

Breitenstein, Otwin; Warta, Wilhelm; Langenkamp, Martin

ISBN 10: 3642024165 ISBN 13: 9783642024160
Editore: Springer, 2010
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Rilegato

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