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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics, 10)
Libro 29: Springer Series in Advanced MicroelectronicsDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 115,75
Spedizione EUR 13,90
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics, 10)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 164,69
Spedizione EUR 13,90
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Libro 29: Springer Series in Advanced MicroelectronicsLingua: Inglese
Editore: Springer, Berlin, Springer Berlin Heidelberg, Springer, 2010
ISBN 10: 3642024165 ISBN 13: 9783642024160
EUR 112,94
Spedizione EUR 62,81
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In the last 7 years, the rst edition of 'Lock-in Thermography' has established as a reference book for all users of this technique for investigating electronic devices, especially solar cells. At this time, a vital further development of lock-in therm- raphy could be observed. Not only the experimental technique was improved by applying new and better infrared cameras, solid immersion lenses, and novel t- ing strategies, but also completely new application elds of lock-in thermography were established by implying irradiation of light during the measurements. The two groups of new techniques are different kinds of Illuminated Lock-In Thermography (ILIT) and Carrier Density Imaging, resp. Infrared Lifetime Imaging (CDI/ILM). While ILIT is performed on solar cells, CDI/ILM is performed on bare wafers for imaging the local minority carrier lifetime and the local concentration of trapping centers. The new edition of this book implements these new developments. One new section entitled 'Timing strategies' is added. In this, new ways are introduced to overcome previous limitations of the choice of the lock-in frequency in comparison with the frame rate of the camera. The previous diffraction limit of the spatial resolution can be overcome by a factor of up to 4 by applying so-called solid immersion lenses. This technique is introduced and its application for failure analysis of ICs, where highest possible spatial resolution is desired, is shown in another new section.
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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials: 10 (Springer Series in Advanced Microelectronics)
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New.
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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics)
Libro 29: Springer Series in Advanced MicroelectronicsDa: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 222,22
Spedizione EUR 29,00
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Libro 63: Springer Series in Advanced MicroelectronicsDa: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 254,13
Spedizione EUR 14,50
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 3rd edition. 344 pages. 9.25x6.10x1.18 inches. In Stock.
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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics (10))
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 274,79
Spedizione EUR 29,00
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: New. NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 372,76
Spedizione EUR 29,00
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Lock-in Thermography
Libro 29: Springer Series in Advanced MicroelectronicsLingua: Inglese
Editore: Springer Berlin Heidelberg, 2010
ISBN 10: 3642024165 ISBN 13: 9783642024160
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 117,57
Spedizione EUR 5,82
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHRD. Condizione: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Lock-in Thermography
Libro 29: Springer Series in Advanced MicroelectronicsLingua: Inglese
Editore: Springer Berlin Heidelberg, 2010
ISBN 10: 3642024165 ISBN 13: 9783642024160
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 123,88
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Lock-in Thermography
Libro 29: Springer Series in Advanced MicroelectronicsLingua: Inglese
Editore: Springer Berlin Heidelberg Sep 2010, 2010
ISBN 10: 3642024165 ISBN 13: 9783642024160
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 106,99
Spedizione EUR 23,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book deals with lock-in thermography (LIT) as a special active dynamic variant of the well-known IR thermography. It enables a much improved signal-to-noise ratio (up to 1000x) and a far better lateral resolution compared to steady-state thermography. The book concentrates on applications to electronic devices and materials, but the basic chapters are useful as well for non-destructive evaluation. Various experimental approaches to LIT are reviewed with special emphasis to different available commercial LIT systems. New LIT applications are reviewed, like Illuminated LIT applied to solar cells , and non-thermal LIT lifetime mapping. Typical LIT investigation case studies are introduced. 268 pp. Englisch.
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Lock-in Thermography (eng)
Libro 63: Springer Series in Advanced MicroelectronicsDa: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 3 su 5 stelle
EUR 134,27
Spedizione EUR 6,80
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: new. Questo è un articolo print on demand.
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Lock-in Thermography
Lingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing, 2019
ISBN 10: 3319998242 ISBN 13: 9783319998244
EUR 144,94
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Describes an imaging technique for the evaluation of materials and electronic devicesDiscusses various new application fields of lock-in thermographyIs useful as a reference work for researchers and engineers alikeIncludes ext.
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Lock-in Thermography
Lingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing Jan 2019, 2019
ISBN 10: 3319998242 ISBN 13: 9783319998244
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 171,19
Spedizione EUR 23,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book discusses lock-in thermography (LIT) as a dynamic variant of the widely known IR thermography. It focuses on applications to electronic devices and materials, but also includes chapters addressing non-destructive evaluation. Periodically modulating heat sources allows a much-improved signal-to-noise ratio (up to 1000x) and a far better lateral resolution compared to steady-state thermography. Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems. Numerous LIT investigation case studies are also included. 344 pp. Englisch.
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Lock-in Thermography
Lingua: Inglese
Editore: Springer International Publishing, Springer International Publishing Jan 2019, 2019
ISBN 10: 3319998242 ISBN 13: 9783319998244
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 171,19
Spedizione EUR 60,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book discusses lock-in thermography (LIT) as a dynamic variant of the widely known IR thermography. It focuses on applications to electronic devices and materials, but also includes chapters addressing non-destructive evaluation. Periodically modulating heat sources allows a much-improved signal-to-noise ratio (up to 1000x) and a far better lateral resolution compared to steady-state thermography. Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems. Numerous LIT investigation case studies are also included.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 344 pp. Englisch.
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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials: 10 (Springer Series in Advanced Microelectronics)
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 241,25
Spedizione EUR 7,54
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand.
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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials: 10 (Springer Series in Advanced Microelectronics)
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 238,65
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND.
