New Approaches to Image Processing Based Failure Analysis of Nano-scale Ulsi Devices

Libro 55 di 393: Micro and Nano Technologies

Zalevsky, Zeev/ Livshits, Pavel/ Gur, Eran

ISBN 10: 0323241433 ISBN 13: 9780323241434
Editore: William Andrew Pub, 2013
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Rilegato

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