9780323241434 - new approaches to image processing based failure analysis of nano-scale ulsi devices di zalevsky, dr. zeev (10 risultati)
Lingua: Inglese
Editore: William Andrew Pub, 2013
Serie: Micro and Nano Technologies, Libro 55 di 393. Libro 55 di 393 - Micro and Nano Technologies
- Rilegato
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 39,64
EUR 11,68 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Hardcover. Condizione: Brand New. 1st edition. 110 pages. 9.09x6.00x0.25 inches. In Stock.
Lingua: Inglese
Editore: Elsevier, 2013
Serie: Micro and Nano Technologies, Libro 55 di 393. Libro 55 di 393 - Micro and Nano Technologies
- Brossura
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno UnitoMajestic Books
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 46,10
EUR 7,59 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Condizione: New. pp. 110.
Lingua: Inglese
Editore: William Andrew 2013-11-18, 2013
Serie: Micro and Nano Technologies, Libro 55 di 393. Libro 55 di 393 - Micro and Nano Technologies
- Brossura
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno UnitoChiron Media
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 36,16
EUR 18,09 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Paperback. Condizione: New.
Lingua: Inglese
Editore: Elsevier, 2013
Serie: Micro and Nano Technologies, Libro 55 di 393. Libro 55 di 393 - Micro and Nano Technologies
- Brossura
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 54,08
EUR 3,49 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Condizione: New. pp. 110 1st Edition.
Lingua: Inglese
Editore: Elsevier, 2013
Serie: Micro and Nano Technologies, Libro 55 di 393. Libro 55 di 393 - Micro and Nano Technologies
- Brossura
Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 52,07
EUR 9,95 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Condizione: New. pp. 110.
Lingua: Inglese
Editore: William Andrew Publishing, 2013
Serie: Micro and Nano Technologies, Libro 55 di 393. Libro 55 di 393 - Micro and Nano Technologies
- Brossura
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno UnitoTHE SAINT BOOKSTORE
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 47,84
EUR 15,29 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Paperback / softback. Condizione: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.
Lingua: Inglese
Editore: Elsevier Science, 2013
Serie: Micro and Nano Technologies, Libro 55 di 393. Libro 55 di 393 - Micro and Nano Technologies
- Brossura
Da: preigu, Osnabrück, Germaniapreigu
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 40,85
EUR 70,00 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Taschenbuch. Condizione: Neu. New Approaches to Image Processing Based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices | Zeev Zalevsky (u. a.) | Taschenbuch | Englisch | 2013 | Elsevier Science | EAN 9780323241434 | Verantwortliche Person für die EU: Zeitfracht Medien GmbH, Ferdinand-Jühlke-Str. 7, 99095 Erfurt, produktsicherheit[at…]zeitfracht[dot]de | Anbieter: preigu.
Lingua: Inglese
Editore: William Andrew, 2013
Serie: Micro and Nano Technologies, Libro 55 di 393. Libro 55 di 393 - Micro and Nano Technologies
- Brossura
- Print on Demand
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 39,47
EUR 4,00 spedizioneSpedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: new. Questo è un articolo print on demand.
Lingua: Inglese
Editore: Elsevier Science Nov 2013, 2013
Serie: Micro and Nano Technologies, Libro 55 di 393. Libro 55 di 393 - Micro and Nano Technologies
- Brossura
- Print on Demand
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, GermaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 38,95
EUR 23,00 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -New Approaches to Image Processing Based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices introduces the reader to transmission and scanning microscope image processing for metal and non-metallic microstructures. Engineers and scientist…s face the pressing problem in ULSI development and quality assurance: microscopy methods can't keep pace with the continuous shrinking of feature size in microelectronics. Nanometer scale sizes are below the resolution of light, and imaging these features is nearly impossible even with electron microscopes, due to image noise. This book presents novel 'smart' image processing methods, applications, and case studies concerning quality improvement of microscope images of microelectronic chips and process optimization. It explains an approach for high-resolution imaging of advanced metallization for micro- and nanoelectronics. This approach obviates the time-consuming preparation and selection of microscope measurement and sample conditions, enabling not only better electron-microscopic resolution, but also more efficient testing and quality control. This in turn leads to productivity gains in design and development of nano-scale ULSI chips. The authors also present several approaches for super-resolving low-resolution images to improve failure analysis of microelectronic chips. 110 pp. Englisch.
Lingua: Inglese
Editore: Elsevier Science, 2013
Serie: Micro and Nano Technologies, Libro 55 di 393. Libro 55 di 393 - Micro and Nano Technologies
- Brossura
- Print on Demand
Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermaniaAHA-BUCH GmbH
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 45,67
EUR 60,99 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Taschenbuch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - New Approaches to Image Processing Based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices introduces the reader to transmission and scanning microscope image processing for metal and non-metallic microstructures. Engineers and scientists fac…e the pressing problem in ULSI development and quality assurance: microscopy methods can't keep pace with the continuous shrinking of feature size in microelectronics. Nanometer scale sizes are below the resolution of light, and imaging these features is nearly impossible even with electron microscopes, due to image noise. This book presents novel 'smart' image processing methods, applications, and case studies concerning quality improvement of microscope images of microelectronic chips and process optimization. It explains an approach for high-resolution imaging of advanced metallization for micro- and nanoelectronics. This approach obviates the time-consuming preparation and selection of microscope measurement and sample conditions, enabling not only better electron-microscopic resolution, but also more efficient testing and quality control. This in turn leads to productivity gains in design and development of nano-scale ULSI chips. The authors also present several approaches for super-resolving low-resolution images to improve failure analysis of microelectronic chips.
