Next Generation HALT and HASS: Robust Design of Electronics and Systems

Libro 8 di 19: Quality and Reliability Engineering

Kirk A. Gray, John J. Paschkewitz

ISBN 10: 1118700236 ISBN 13: 9781118700235
Editore: Wiley, 2016
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Molto buono Rilegato

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