Physical Measurement and Analysis of Thin Films

Lingua: inglese

Editore: Springer US, Springer US Dez 2013, 2013

1489959122 / 9781489959126

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Codice articolo 9781489959126

Dati bibliografici

Titolo
Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Autore
E. M. Murt
Editore
Springer US, Springer US Dez 2013
Anno di pubblicazione
2013
Condizione
Neu
Rilegatura
Taschenbuch
Lingua
inglese
ISBN 10
1489959122
ISBN 13
9781489959126
Peso dell'articolo
309 grammi
Dimensioni
229x152x12 mm

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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