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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Editore: Plenum Press, New York, NY, 1969
Da: Book Bear, West Brookfield, MA, U.S.A.
Membro dell'associazione: SNEAB
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Cloth. Condizione: Very Good. Condizione sovraccoperta: No Dust Jacket. 194 pp. Tightly bound. Corners not bumped. Text is free of markings. Owner's name stamp on front end paper. Light foxing top fore-edge.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Editore: Plenum Press, 1969
Da: Mythos Center Books, Frontenac, MN, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione
Hardcover. Condizione: Used: Very Good. 1st ed. Cloth, 194pp, vg. Progress In Analytical Chemistry, Volume 2.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Editore: Plenum Publishing, 1969
Da: George Cross Books, Lexington, MA, U.S.A.
Membro dell'associazione: IOBA
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. First ition edition. Good/Good (23493) - Hardcover, good condition, w. ltly compressed spine. badly bumped r. top corner, 3 ltly bumped corners. Damp stain on r. brd. Creaky fr. hinge. Ltly tanned p. edges, eps. clean, tight, unmarked. Dj good, some lt soil, somewhat rubbed. Ltly tanned sp. damps stain, some lt edgwr. chip at top fr. 194.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films (Progress in Analytical Chemistry, Volume 2)
Editore: Plenum Press, 1969
Da: BookDepart, Shepherdstown, WV, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: UsedGood. Hardcover; contains eight papers presented at the Eastern Analytical Symposium held at the Statler-Hilton Hotel in New York City on November 8-10, 1967. Surplus library copy with the usual stampings; reference number written on spine; light fading and shelf wear to exterior; otherwise in good condition with clean text and tight binding.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films (Progress in Analytical Chemistry)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 61,08
Spedizione EUR 13,99
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 57,38
Spedizione EUR 18,08
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Aggiungi al carrelloPF. Condizione: New.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 208.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 78,24
Spedizione EUR 11,68
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. reprint edition. 205 pages. 9.01x5.98x0.44 inches. In Stock.
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EUR 50,25
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Physical Measurement and Analysis of Thin Films | E. M. Murt | Taschenbuch | Progress in Analytical Chemistry | xi | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9781489959126 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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EUR 58,39
Spedizione EUR 61,55
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
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EUR 80,22
Spedizione EUR 15,74
Spedito da Cina a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrellopaperback. Condizione: New. Language:Chinese.The Definitive Guide Hadoop YARN.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films (eng)
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 46,22
Spedizione EUR 5,50
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Lingua: Inglese
Editore: Springer US, Springer US Dez 2013, 2013
ISBN 10: 1489959122 ISBN 13: 9781489959126
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 53,49
Spedizione EUR 23,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware 208 pp. Englisch.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 79,75
Spedizione EUR 7,59
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 208 23:B&W 6 x 9 in or 229 x 152 mm Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 80,13
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 208.
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EUR 48,37
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Lingua: Inglese
Editore: Springer, Springer Dez 2013, 2013
ISBN 10: 1489959122 ISBN 13: 9781489959126
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 53,49
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