Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Charles E. Lyman, Patrick Echlin, Eric Lifshin, Linda Sawyer, J.R. Michael

ISBN 10: 1461349699 ISBN 13: 9781461349693
Editore: Springer-Verlag New York Inc., US, 2013
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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