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9781461349693 - Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition di Goldstein, Joseph; Newbury, Dale E.; Joy, David C.; Lyman, Charles E.; Echlin, Patrick (18 risultati)
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition
Da: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, U.S.A.
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Paperback. Condizione: Good. No Jacket. Pages can have notes/highlighting. Spine may show signs of wear. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis : Third Edition
Da: Better World Books, Mishawaka, IN, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Very Good. Pages intact with possible writing/highlighting. Binding strong with minor wear. Dust jackets/supplements may not be included. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 90,95
Spedizione EUR 13,85
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 106,58
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Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 90,94
Spedizione EUR 17,34
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Lingua: Inglese
Editore: Springer-Verlag New York Inc., US, 2013
ISBN 10: 1461349699 ISBN 13: 9781461349693
Da: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 126,40
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Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: New. Third Edition 2003.
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EUR 104,15
Spedizione EUR 70,00
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Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis | Third Edition | Joseph Goldstein (u. a.) | Taschenbuch | xix | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9781461349693 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis: Third Edition
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 175,00
Spedizione EUR 17,34
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 3rd edition. 708 pages. 10.00x7.00x1.75 inches. In Stock.
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Lingua: Inglese
Editore: Springer-Verlag New York Inc., US, 2013
ISBN 10: 1461349699 ISBN 13: 9781461349693
Da: Rarewaves.com UK, London, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 118,12
Spedizione EUR 75,13
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: New. Third Edition 2003.
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EUR 127,15
Spedizione EUR 66,65
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Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In the decade since the publication of the second edition of Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic scanning electron microscope (SEM) and the x-ray spectrometers. The emergence of the variab- pressure/environmental SEM has enabled the observation of samples c- taining water or other liquids or vapor and has allowed for an entirely new class of dynamic experiments, that of direct observation of che- cal reactions in situ. Critical advances in electron detector technology and computer-aided analysis have enabled structural (crystallographic) analysis of specimens at the micrometer scale through electron backscatter diffr- tion (EBSD). Low-voltage operation below 5 kV has improved x-ray spatial resolution by more than an order of magnitude and provided an effective route to minimizing sample charging. High-resolution imaging has cont- ued to develop with a more thorough understanding of how secondary el- trons are generated. The eld emission gun SEM, with its high brightness, advanced electron optics, which minimizes lens aberrations to yield an - fective nanometer-scale beam, and 'through-the-lens' detector to enhance the measurement of primary-beam-excited secondary electrons, has made high-resolution imaging the rule rather than the exception. Methods of x-ray analysis have evolved allowing for better measurement of specimens with complex morphology: multiple thin layers of different compositions, and rough specimens and particles. Digital mapping has transformed classic x-ray area scanning, a purely qualitative technique, into fully quantitative compositional mapping.
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 211,90
Spedizione EUR 17,34
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 202,39
Spedizione EUR 28,90
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 238,10
Spedizione EUR 2,29
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (eng)
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 3 su 5 stelle
EUR 94,25
Spedizione EUR 11,00
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition
Lingua: Inglese
Editore: Springer-Verlag New York Inc., 2013
ISBN 10: 1461349699 ISBN 13: 9781461349693
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 106,81
Spedizione EUR 26,94
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 117,69
Spedizione EUR 23,00
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Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The authors emphasize the practical aspects of the techniques described. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis. Separate chapters cover SEM sample preparation methods for hard materials, polymers, and biological specimens. In addition techniques for the elimination of charging in non-conducting specimens are detailed. 720 pp. Englisch.
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EUR 101,04
Spedizione EUR 48,99
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Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. The text has been used in educating over 3,000 students at the Lehigh SEM short course as well as thousands of undergraduate and graduate students at universities in every corner of the globeThe authors have made extensive changes to the text and .
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Lingua: Inglese
Editore: Springer, Springer Mai 2013, 2013
ISBN 10: 1461349699 ISBN 13: 9781461349693
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
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Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -An ideal text for students as well as practitioners, this is a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The text has been used in educating over 3,000 students at the Lehigh SEM short course as well as thousands of undergraduate and graduate students at universities across the globe. The authors emphasize the practical aspects of the techniques described. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis. Separate chapters cover SEM sample preparation methods for hard materials, polymers, and biological specimens.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 720 pp. Englisch.
