Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis : Third Edition

Newbury, Dale E., Echlin, Patrick, Goldstein, Joseph, Joy, David C., Lyman, Charles E.

ISBN 10: 1461349699 ISBN 13: 9781461349693
Editore: Springer, 2013
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Molto buono Brossura

Venduto da Better World Books, Mishawaka, IN, U.S.A.

Venditore AbeBooks dal 3 agosto 2006

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Visualizza gli articoli del venditore


Usato - Brossura

Condizione: Usato - Molto buono

Prezzo:
EUR 88,23
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.

Quantità: 1 disponibili

Aggiungere al carrello