Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists

Lingua: inglese

Editore: Springer, 1992

0306441756 / 9780306441752

Da: DeckleEdge LLC, Albuquerque, NM, U.S.A.DeckleEdge LLC

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Titolo
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Autore
Goldstein, Joseph; Newbury, Dale E.; Echlin, Patrick; Joy, David C.; Romig Jr., Alton D.; Lyman, Charles E.; Fiori, Charles; Lifshin, Eric
Editore
Springer
Anno di pubblicazione
1992
Condizione
new
Rilegatura
hardcover
Lingua
inglese
ISBN 10
0306441756
ISBN 13
9780306441752
Edizione
seconda edizione

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