Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

Lingua: inglese

Editore: Elsevier Science & Technology, Woodhead Publishing, 2020

0128172460 / 9780128172469

Serie: Libro 135 di 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials

Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, GermaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy: Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices is the definitive reference on an important tool to characterize ferroelectric, dielectric and semiconductor materials. Written by the inventor, the book reviews the methods for applying the technique to key materials applications, including the measurement of ferroelectric materials at the atomic scale and the visualization and measurement of semiconductor materials and devices at a high level of sensitivity. Finally, the book reviews new insights this technique has given to material and device physics in ferroelectric and semiconductor materials. The book is appropriate for those involved in the development of ferroelectric, dielectric and semiconductor materials devices in academia and industry. Englisch.

Codice articolo 9780128172469

Titolo
Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy
Autore
Yasuo Cho
Editore
Elsevier Science & Technology, Woodhead Publishing
Anno di pubblicazione
2020
Condizione
Neu
Rilegatura
Taschenbuch
Lingua
inglese
ISBN 10
0128172460
ISBN 13
9780128172469
Peso dell'articolo
420 grammi
Dimensioni
229x152x12 mm
Serie
Libro 135 di 203: Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

Bergisch Gladbach, Germania

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