Scanning Probe Microscopy

Lingua: inglese

Editore: Springer New York, Copernicus Dez 2006, 2006

0387286675 / 9780387286679

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Scanning Probe Microscopy brings up to date a constantly growing knowledge base of electrical and electromechanical characterization at the nanoscale. This comprehensive, two-volume set presents practical and theoretical issues of advanced scanning probe microscopy (SPM) techniques ranging from fundamental physical studies to device characterization, failure analysis, and nanofabrication. Volume 1 focuses on the technical aspects of SPM methods ranging from scanning tunneling potentiometry to electrochemical SPM, and addresses the fundamental physical phenomena underlying the SPM imaging mechanism. Volume 2 concentrates on the practical aspects of SPM characterization of a wide range of materials, including semiconductors, ferroelectrics, dielectrics, polymers, carbon nanotubes, and biomolecules, as well as on SPM-based approaches to nanofabrication and nanolithography.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 1040 pp. Englisch.…

Codice articolo 9780387286679

Titolo
Scanning Probe Microscopy
Autore
Alexei Gruverman
Editore
Springer New York, Copernicus Dez 2006
Anno di pubblicazione
2006
Condizione
Neu
Rilegatura
Buch
Lingua
inglese
ISBN 10
0387286675
ISBN 13
9780387286679
Peso dell'articolo
1879 grammi
Dimensioni
241x160x67 mm

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Emtmannsberg, BAYE, Germania

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