Semiconductor Device Analysis Using Photon Emission Microscopy

Lingua: inglese

Editore: John Wiley & Sons, 2000

047149240X / 9780471492405

Da: moluna, Greven, Germaniamoluna

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This reference details the principles of design, calibration, and use of photon emission microscopy (PEM) as a fault localization technique used for analyzing device reliability and failure. (SciTech Book News Vol. 25, No. 2 June 2001)The diminishing .

Codice articolo 446916852

Titolo
Semiconductor Device Analysis Using Photon Emission Microscopy
Autore
WK Chim
Editore
John Wiley & Sons
Anno di pubblicazione
2000
Condizione
New
Rilegatura
Gebunden
Lingua
inglese
ISBN 10
047149240X
ISBN 13
9780471492405

moluna

Greven, Germania

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