Semiconductor Device and Failure Analysis Using Photon Emmission Microscopy: Using Photon Emission Microscopy (Quality and Reliability Engineering Series)

Lingua: inglese

Editore: Wiley, 2000

047149240X / 9780471492405

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Titolo
Semiconductor Device and Failure Analysis Using Photon Emmission Microscopy: Using Photon Emission Microscopy (Quality and Reliability Engineering Series)
Autore
Chim, Wai Kin
Editore
Wiley
Anno di pubblicazione
2000
Condizione
Good
Rilegatura
Rilegato
Lingua
inglese
ISBN 10
047149240X
ISBN 13
9780471492405

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