Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs.

Shen, Ruijing; Tan, Sheldon X.-D.; Yu, Hao

ISBN 10: 1461407877 ISBN 13: 9781461407874
Editore: New York, Springer New York., 2012
Lingua: Inglese
Condizione: Usato Rilegato

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