Testing Static Random Access Memories: Defects, Fault Models and Test Patterns (Frontiers in Electronic Testing, 26)

Libro 38 di 40: Frontiers in Electronic Testing

Hamdioui, Said

ISBN 10: 1402077521 ISBN 13: 9781402077524
Editore: Springer, 2004
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Rilegato

Venduto da Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito

Venditore AbeBooks dal 25 marzo 2015

Valutazione del venditore 5 su 5 stelle 5 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Visualizza gli articoli del venditore


Nuovi - Rilegato

Condizione: Nuovo

Prezzo:
EUR 115,74
Spedizione EUR 13,89
Spedito da Regno Unito a U.S.A.

Quantità: Più di 20 disponibili

Aggiungere al carrello