Testing Static Random Access Memories

Lingua: inglese

Editore: Springer US, Copernicus Mär 2004, 2004

1402077521 / 9781402077524

Serie: Libro 38 di 40 - Frontiers in Electronic Testing

Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germaniabuchversandmimpf2000

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Testing Static Random Access Memories covers testing of one of the important semiconductor memories types; it addresses testing of static random access memories (SRAMs), both single-port and multi-port. It contributes to the technical acknowledge needed by those involved in memory testing, engineers and researchers. The book begins with outlining the most popular SRAMs architectures. Then, the description of realistic fault models, based on defect injection and SPICE simulation, are introduced. Thereafter, high quality and low cost test patterns, as well as test strategies for single-port, two-port and any p-port SRAMs are presented, together with some preliminary test results showing the importance of the new tests in reducing DPM level. The impact of the port restrictions (e.g., read-only ports) on the fault models, tests, and test strategies is also discussed.Features:Fault primitive based analysis of memory faultsA complete framework of and classification memory faultsA systematic way to develop optimal and high quality memory test algorithmsA systematic way to develop test patterns for any multi-port SRAMChallenges and trends in embedded memory testing.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 244 pp. Englisch.

Codice articolo 9781402077524

Titolo
Testing Static Random Access Memories
Autore
Said Hamdioui
Editore
Springer US, Copernicus Mär 2004
Anno di pubblicazione
2004
Condizione
Neu
Rilegatura
Buch
Lingua
inglese
ISBN 10
1402077521
ISBN 13
9781402077524
Peso dell'articolo
535 grammi
Dimensioni
241x160x18 mm
Serie
Libro 38 di 40: Frontiers in Electronic Testing

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Emtmannsberg, BAYE, Germania

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