VLSI Design and Test: 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17 19, 2022, Revised Selected Papers: 1687 (Communications in Computer and Information Science, 1687)

Shah, Ambika Prasad (Editor) / Dasgupta, Sudeb (Editor) / Darji, Anand (Editor) / Tudu, Jaynarayan (Editor)

ISBN 10: 3031215133 ISBN 13: 9783031215131
Editore: Springer, 2022
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Brossura

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