Tudu jaynarayan editor (1 risultati)
VLSI Design and Test: 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 1719, 2022, Revised Selected Papers: 1687 (Communications in Computer and Information Science, 1687)
Shah, Ambika Prasad (Editor) / Dasgupta, Sudeb (Editor) / Darji, Anand (Editor) / Tudu, Jaynarayan (Editor)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2022
Serie: Libro 495 di 578 - Communications in Computer and Information Science
- Brossura
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books
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