VLSI Test Principles And Architectures: Design for Testability

Wang, Laung-terng (Editor)/ Wu, Cheng-Wen (Editor)/ Wen, Xiaoqing (Editor)

ISBN 10: 0123705975 ISBN 13: 9780123705976
Editore: Morgan Kaufmann Pub, 2006
Lingua: Inglese
Condizione: Nuovo Rilegato

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