Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits (Integrated Mircosystems)

Bahukudumbi, Sudarshan, Chakrabarty, Krishnendu

ISBN 10: 1596939893 ISBN 13: 9781596939899
Editore: Artech House, 2010
Lingua: Inglese
Condizione: Usato - Come nuovo Rilegato

Venduto da Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito

Venditore AbeBooks dal 15 aprile 2021

Valutazione del venditore 4 su 5 stelle 4 stelle, Maggiori informazioni sulle valutazioni dei venditori

Visualizza gli articoli del venditore


Usato - Rilegato

Condizione: Usato - Come nuovo

Prezzo:
EUR 180,38
Spedizione EUR 29,19
Spedito da Regno Unito a U.S.A.

Quantità: 1 disponibili

Aggiungere al carrello