Isbn: 9781596939899 - wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits (3 risultati)
- Rilegato
Da: BOOKWEST, Phoenix, AZ, U.S.A.BOOKWEST
Contatta il venditoreVenditore con 3 stelleCondizione: Nuovo
EUR 86,93
EUR 4,43 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibile
Hardcover. Condizione: New. US SELLER SHIPS FAST FROM USA.
- Rilegato
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.Basi6 International
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 98,33
Spedizione gratuitaSpedito in U.S.A.Quantità: 1 disponibile
Condizione: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
- Rilegato
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 167,25
EUR 29,42 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibile
Hardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
