Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits

Lingua: inglese

Editore: Springer US, Springer US Feb 1995, 1995

0792395514 / 9780792395515

Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germaniabuchversandmimpf2000

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Traditionally, Computer Aided Design (CAD) tools have been used to create the nominal design of an integrated circuit (IC), such that the circuit nominal response meets the desired performance specifications. In reality, however, due to the disturbances ofthe IC manufacturing process, the actual performancesof the mass produced chips are different than those for the nominal design. Even if the manufacturing process were tightly controlled, so that there were little variations across the chips manufactured, the environmentalchanges (e. g. those oftemperature, supply voltages, etc. ) would alsomakethe circuit performances vary during the circuit life span. Process-related performance variations may lead to low manufacturing yield, and unacceptable product quality. For these reasons, statistical circuit design techniques are required to design the circuit parameters, taking the statistical process variations into account. This book deals with some theoretical and practical aspects of IC statistical design, and emphasizes how they differ from those for discrete circuits. It de scribes a spectrum of different statistical design problems, such as parametric yield optimization, generalized on-target design, variability minimization, per formance tunning, and worst-case design. The main emphasis of the presen tation is placed on the principles and practical solutions for performance vari ability minimization. It is hoped that the book may serve as an introductory reference material for various groups of IC designers, and the methodologies described will help them enhance the circuit quality and manufacturability. The book containsseven chapters.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 260 pp. Englisch.

Codice articolo 9780792395515

Titolo
Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Autore
M. A. Styblinski
Editore
Springer US, Springer US Feb 1995
Anno di pubblicazione
1995
Condizione
Neu
Rilegatura
Buch
Lingua
inglese
ISBN 10
0792395514
ISBN 13
9780792395515
Peso dell'articolo
559 grammi
Dimensioni
241x160x19 mm

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Emtmannsberg, BAYE, Germania

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