Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 208)

Lingua: inglese

Editore: Springer, 1992

0792393066 / 9780792393061

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Titolo
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 208)
Autore
Pineda de Gyvez, Jos
Editore
Springer
Anno di pubblicazione
1992
Condizione
Very Good
Firmato
Autografato dall'autore
Rilegatura
Rilegato
Lingua
inglese
ISBN 10
0792393066
ISBN 13
9780792393061

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