Isbn: 9780792393061 - integrated circuit defect-sensitivity: theory and computational models: 208 (16 risultati)
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Gebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. The history of this book begins way back in 1982. At that time a research proposal was filed with the Dutch Foundation for Fundamental Research on Matter concerning research to model defects in the layer structure of integrated circuits. It was projected th.…
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