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9780792393061 - Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models: 208 di Pineda De Gyvez, Jose (17 risultati)
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 208)
Da: thebookforest.com, San Rafael, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Copia autografata
Condizione: Very Good. Signed by author on title page. Text block firm and clean, binding unblemished, boards straight, without highlights or underlining. Well packaged and promptly shipped from California. Partnered with Friends of the Library since 2010.
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Hardcover. Condizione: New. US SELLER SHIPS FAST FROM USA.
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity Theory And Computational Models
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 208)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 115,24
Spedizione EUR 13,83
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity : Theory and Computational Models
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 130,98
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity : Theory and Computational Models
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 115,23
Spedizione EUR 17,32
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 196.
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, 1992
ISBN 10: 0792393066 ISBN 13: 9780792393061
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 132,95
Spedizione EUR 10,50
Spedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Spot defects are random phenomena present in every fabrication line. As technological processes mature towards submicron features, the effect of these defects on the functional and parametric behavior of the IC becomes crucial. This title reviews the importance of a defect-sensitivity analysis in contemporary VLSI design procedures. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 167 pages, 48 black & white illustrations, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 12. Weight in Grams: 1000. . 1992. Hardback. . . . .
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity : Theory and Computational Models
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 148,67
Spedizione EUR 17,32
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity:: Theory and Computational Models (The International Series in Engineering and Computer Science)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 139,17
Spedizione EUR 28,87
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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EUR 61,63
Spedizione EUR 105,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity : Theory and Computational Models
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 171,75
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, 1992
ISBN 10: 0792393066 ISBN 13: 9780792393061
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New. Spot defects are random phenomena present in every fabrication line. As technological processes mature towards submicron features, the effect of these defects on the functional and parametric behavior of the IC becomes crucial. This title reviews the importance of a defect-sensitivity analysis in contemporary VLSI design procedures. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 167 pages, 48 black & white illustrations, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 12. Weight in Grams: 1000. . 1992. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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EUR 127,84
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. The history of this book begins way back in 1982. At that time a research proposal was filed with the Dutch Foundation for Fundamental Research on Matter concerning research to model defects in the layer structure of integrated circuits. It was projected th.
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EUR 158,88
Spedizione EUR 62,27
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware - The history of this book begins way back in 1982. At that time a research proposal was filed with the Dutch Foundation for Fundamental Research on Matter concerning research to model defects in the layer structure of integrated circuits. It was projected that the results may be useful for yield estimates, fault statistics and for the design of fault tolerant structures. The reviewers were not in favor of this proposal and it disappeared in the drawers. Shortly afterwards some microelectronics industries realized that their survival may depend on a better integration between technology-and design-laboratories. For years the 'silicon foundry' concept had suggested a fairly rigorous separation between the two areas. The expectation was that many small design companies would share the investment into the extremely costful Silicon fabrication plants while designing large lots of application-specific integrated circuits (ASIC's). Those fabrication plants would be concentrated with only a few market leaders.
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 147,09
Spedizione EUR 7,51
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 196 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 148,29
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 196.
